Ученые Университета Райса разработали простой и доступный инструмент для подсчета и характеризации наночастиц.
Рис лабораториях химики Кристи Ланд и ссылку Штефан создал программу с открытым исходным кодом под названием SEMseg получить информацию о наночастицах, объекты размером менее 100 нанометров, из сканирующего электронного микроскопа (РЭМ) изображения, которые в противном случае трудно, если не невозможно анализировать.
Размер и форма частиц влияет на то, как хорошо они работают в оптоэлектронных устройств, катализаторов и зондирования, такие как поверхностно-усиленной рамановской спектроскопии.
SEMseg описано в ходе исследования под руководством Ланды и студентов риса выпускник Рашад Baiyasi в Американского химического общества Журнал физической химии А.
Программа доступна для скачивания с GitHub по https://github.com/LandesLab?tab=repositories.
SEMseg — за семь сегментация-Спрингс из учебной команды в науке в прошлом году, который показал, как белки могут быть использованы, чтобы подтолкнуть наностержней в хиральных сборки. «Эта работа была одним из результатов этого», — сказал Ланд. «Мы поняли, что нет хороший способ количественного анализа РЭМ изображений».
Подсчет и характеризующий отдельные или совокупные наностержней обычно делается с помощью просвечивающего электронных микроскопов (Пэм), ручное измерение, склонной к человеческой предвзятости или программы, которые не в состоянии различать частицы, если они далеко друг от друга. Экстракты SEMseg пикселей на уровне данных с низкой контрастностью, низким разрешением РЭМ изображения и рекомбинирует их в четкое изображение.
SEMseg можно быстро различить отдельные наностержней в плотно упакованных узлов и агрегатов для определения размера и ориентации каждой частицы и величину зазоров между ними. Что позволяет повысить эффективность статистического анализа агрегатов.
«В течение нескольких минут, SEMseg можете характеризующих наночастицы в больших наборов данных, что может занять несколько часов, чтобы измерить вручную», — сказал Baiyasi.
Сегментирование наночастиц, сказал он, относится к изоляции и характеризующий каждая составляющая частица в совокупности. Выделения составных наночастиц позволяет исследователям анализировать и характеризовать неоднородную структуру агрегатов.
Сказал Baiyasi SEMseg может быть адаптирован для других методов визуализации, как атомно-силовой микроскопии и может быть расширен для других наночастиц формы, например кубики или треугольники.
сделать разницу: спонсорские возможности
Ответить
Хотите присоединиться к обсуждению?Не стесняйтесь вносить свой вклад!